Vantage 1

cyber非接觸式掃描儀

雷科股份有限公司

量測SEMI/PCB - 精準檢測，品質管控

SEMI/PCB Measurement - Precision Inspection, Quality Control

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Vantage 1

cyber非接觸式掃描儀

Vantage 1
Vantage 1

  • 2D非接觸式掃描系統。
  • 雷射非接觸式量測，乾膜及濕膜皆可量測。
  • 0.125um動態高解析度，量測精度達1um。
  • 可量測】2D (y,z or x,z)、Height、Height (Avg)、Length、Angle、Angle (Planar)、Center、Roughness、Radius (Avg、Max、RMS、Rz)。
  • 成品夾座具有微調角度功能。
  • 【產品用途】 厚膜印刷，混成電路(Hybrid Circuit)、BGA、TAB 及 FLIP/CHIP、SOLDER BUMPING厚度量測、SMT印刷錫膏量測、2D尺寸及角測.

產品說明

詳細產品內容或加工說明

Vantage 1 Vantage 1
Depth of laser scribing Depth of laser scribing
3D metallization measurement on solar cells 3D metallization measurement on solar cells
Thick-film height on hybrid circuits Thick-film height on hybrid circuits
Roughness of a Gold Layer Roughness of a Gold Layer
Printed Feature on a LTCC Tape Printed Feature on a LTCC Tape
德國 Cyber Technologies 非接觸式掃描儀 德國 Cyber Technologies 非接觸式掃描儀
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