CT 150

• 精確快速2D/3D非接觸式掃描系統【可量測】3D(x,y,z) 2D (y,z or x,z)、Height、Height (Avg)、Length、Volume、Angle、Angle (Planar)、Center、Roughness、Radius (Avg, Max, RMS, Rz)、Roughness (Avg, Max,RMS, Rz)。
• 簡單易用的使用者介面。
• 掃描區域 : 100mmX100mm。
• 精密分析及自動化軟體。

• 【適用範圍】 厚膜印刷，混成電路(Hybrid Circuit)、SMT印刷錫膏、uBGA、TAB、CSP、Flip / Chip、8 Wafer Warpage 之厚度量測.

• 【產品用途】 半導體產業封裝與測試,光電產業,PCBs製程,SMT產業,混成電路,被動元件。